Methode non-invasive de detection electro-optique dans l'arseniure de gallium et potentiel d'application au regime de terahertz

L'echantillonage electro-optique est une technique de caracterisation d'impulsions electriques ultra-breves assez repandue. Ce memoire propose une technique de detection, basee sur l'echantillonage electro-optique, mais dont l'aspect important est le caractere non-invasif. Cette technique repose sur l'utilisation de lignes microruban fabriquees sur un substrat de GaAs, qui est un materiau electro-optique. Ainsi, le cristal de sonde est directement le substrat, ce qui permet plus de polyvalence.;Ensuite, une etude des proprietes du GaAs en regime quasi-statique montre un effet marque de la tension appliquee sur la polarisation du faisceau de detection. La contribution de l'effet Franz-Keldysh sur ces mesures est negligeable, donc les modulations vues en fonction de la tension appliquee sont bien dues a un effet electro-optique dans le GaAs. L'analyse des resultats met en evidence une asymetrie prononcee du champ electrique existant entre les deux electrodes d'or deposees sur le substrat. L'influence de la tension appliquee et de la puissance du faisceau de detection est aussi investiguee.;La configuration d'un commutateur photoconducteur couple a une ligne microruban, avec l'ajout d'un plan de masse fini sur la surface du substrat, permet de voir un effet electro-optique quasi-statique. Cependant, le regime impulsionnel n'a pu etre observe. Un effet coherent entre le faisceau d'excitation et le faisceau de detection a toutefois ete note, mais cet effet ne peut etre associe a l'effet electro-optique que nous souhaitions mettre a profit. Certaines ameliorations sont donc proposees pour accroitre le potentiel d'application de cette technique au regime du terahertz.;Dans un premier temps, des simulations numeriques de la distribution du champ electrique autour des lignes microruban revelent que le type de detection suggere gagne en efficacite avec l'utilisation d'un substrat plus mince. Aussi, ces simulations montrent que l'ajout d'un plan de masse fini sur la surface de l'echantillon perturbe le champ electrique uniquement dans un volume rapproche.